METROTOM 1500
Precisión y velocidad en cada medición.
El ZEISS METROTOM 1500 ofrece tecnología de tomografía computarizada avanzada, ideal para detectar defectos internos con precisión. Su capacidad de escaneo rápido y alta resolución lo convierte en una solución eficiente tanto para piezas pequeñas como grandes. Con una metrología precisa conforme a VDI/VDE 2630 1.3 y la opción de certificación DAkkS, este sistema combina calidad y versatilidad en un diseño compacto.
Aspectos destacados
Calidad de Imagen Superior
El ZEISS METROTOM 1500 garantiza una excepcional claridad de imagen al minimizar los artefactos de dispersión, lo que mejora la detección de defectos y el análisis de superficies. Esto se logra mediante el módulo ZEISS scatterControl, que proporciona un alto contraste y una clara distinción entre materiales, asegurando una inspección confiable.
Versatilidad para Partes Variadas
El METROTOM 1500 es capaz de escanear tanto piezas pequeñas con alta resolución como piezas grandes, con un diámetro de hasta 615 mm y una altura de 800 mm. Su punto de enfoque ajustable permite escaneos rápidos mientras mantiene una excelente resolución, lo que lo hace ideal para una amplia gama de aplicaciones.
Ideal para Piezas Multimaterial
Este sistema es perfecto para inspeccionar componentes complejos compuestos por múltiples materiales, como plásticos, metales ligeros, cobre y acero. A diferencia de los métodos tradicionales, el ZEISS METROTOM 1500 puede inspeccionar estos materiales sin necesidad de pruebas destructivas, lo que ahorra tiempo y reduce costos.
Alta Resolución y Precisión Trazable
El sistema está diseñado para cumplir con los estándares VDI/VDE 2630 en cuanto a precisión trazable, garantizando un MPE(SD) de 4.5 + L/50 μm, lo que asegura resultados de medición precisos incluso en todo el campo de visión.
Calibración DAkkS para Estándares de Calidad
El sistema ofrece calibración DAkkS, un proceso acreditado que asegura una inspección de CT confiable y estandarizada. Esta característica es particularmente útil en industrias como la automotriz, médica y farmacéutica, donde la medición precisa es crítica.
Detección de Defectos con IA y ZEISS INSPECT
El software ZADD (ZEISS Automated Defect Detection) utiliza IA para detectar defectos internos en componentes mediante tomografía computarizada (CT). Integrado con ZEISS INSPECT X-Ray, automatiza la inspección de defectos como poros e inclusiones, mejorando la eficiencia y reduciendo el esfuerzo en el análisis de múltiples piezas a la vez. Además, genera informes claros y personalizables para facilitar la evaluación.
Centro de Recursos
-
Contácte a un experto
-
Brochure
-
Asistencia técnica